专注于光电领域的技术服务与产品经销
为客户提供完善的服务是我们的理念
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多功能偏振测量系统（光谱偏振态测量、延迟量及快轴角度测量、穆勒矩阵测量）
综合偏振测量分析、集三个专业检测设备于一体、超强性能、超高性价比
无需增加成本即可获得更多强大功能及丰富的用户体验
单台设备即可完成对晶体、光学元器件、薄膜等样品的内应力（延迟量）及穆勒矩阵测量，此外还可分析出射光的斯托克斯参数
“Sci-Ral”多功能偏振测量系统能在多光谱条件下测量光学元器件及材料的偏振特性，包括入射光的偏振态(Stokes Vectors)、材料的双折射(Birefringence)特性及穆勒矩阵（Mueller Matrix）。
该系统测量基本功能包含对样品延迟量（Retardation）及快轴角度(Fast Axis)的测量，此外还可测量高阶穆勒矩阵（二色性、旋光、退偏等）用以评估样品的高阶偏振特性。
定制化方案！！！皆可满足
我们可以在基本配置的基础上提出定制方案，以满足您的特定应用需求。
・定制波长光源（230nm-2500nm）
・透射与反射载物台可选
・弱光测定（荧光和拉曼散射等弱光信号，搭载安多冷却探测器，精准测量微弱光的偏振特性）
・显微系统可选（搭载显微镜，在微米范围内实现偏振测量）
欢迎垂询！！
周工 15549390251（微信同号）
Birefringence Measurement 双折射测量
测量和评估光学薄膜等显示材料以及波片等光学元件的双折射导致的延迟色散（延迟量的波长依赖性）。
不同波长下的延迟量(相位差)和快轴角度示意图
可测量一些如显示器用的视角改善膜、液晶材料等具有非常大的相位延迟样品。该设备可以通过其拟合功能用于分析数千纳米或更大的相位延迟。对于接近λ/2纳米的相位延迟（常规仪器无法测量），本系统可以通过使用拟合曲线获得准确的相位延迟。
拟合后的实际延迟（9190nm@λ532nm）
Mueller Matrix Measurement 穆勒矩阵测量
穆勒矩阵是一个4×4的参数矩阵，涵盖了材料和光学系统的偏振特性。Sci-Ral在每个波长下测量完整的穆勒矩阵，因此穆勒矩阵显示为4×4=16个图表。Sci-Ral具备将穆勒矩阵的分析分离为双折射、二向色性、旋光性和退偏振等偏振特性的能力。此外，通过假设入射偏振，穆勒矩阵可用于追踪穿过材料或光学系统后的偏振态。
测试实例1：光学材料评估
通过分析波片（相位延迟片）的穆勒矩阵中的偏振，可以评估除双折射引起的相位延迟和快（慢）轴之外的任何偏振特性。
已知一些宽带波片不仅相位延迟会随波长变化，快（慢）轴也会随波长变化。此外，还可以评估是否存在旋光性（线偏振发生旋转的特性），而普通波片看不到此现象。
16个穆勒矩阵元素
数据分析结果 （从上到下：延迟量（Retardation）、快轴角度(Fast Axis)、光学旋转(CB)）
测试实例2：聚酰亚胺薄膜
芳香族聚酰亚胺在短波长处吸收光，使其呈现棕色，且所测薄膜在400 - 500nm左右的波长处吸收光。穆勒矩阵分析使得分别评估吸收波长处的二向色性和双折射引起的相位延迟成为可能。据说这种类型的分析能够从多个角度在微观（分子尺寸）和宏观（亚微米尺寸）层面评估材料的内部结构。左图：穆勒矩阵 右图：分析结果
Stokes Measurement 斯托克斯参数测量
该系统可直接获取S0到S3四个斯托克斯矢量，它们代表光的偏振态。此外，为了更易于理解偏振态，还会显示表示（椭圆）偏振光形状的椭圆率(Elliplicity)、表示长轴方向的方位角(Azimuth)以及表示偏振光与非偏振光比例的偏振度(DOP)。此外，庞加莱球和偏振态会以图示形式展示，让您直观地理解偏振态。
测试实例1：圆偏振片
从上到下依次为：椭圆率（Ellipticity）、极化轴方向(Axis)、偏振度(DOP)
测试实例2：波片
线偏振光入射到零级晶体波片时的出射偏振态。石英波片的结构（两块石英晶体之间的层叠角误差或晶体不均匀性）会影响偏振态，使其在波长方向上产生细微振荡。
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